SEMMA-2000
Растровый электронный микроскоп-микроанализатор идеально подходит для решения широкого круга проблем в таких областях науки и техники как материаловедение, электроника, геология, медицина и др.. Высокие технические характеристики в растровом режиме и режиме микроанализа позволяют быстро и качественно исследовать рельеф поверхности твердого тела с одновременным определением качественного и количественного элементного состава методом рентгеновского микроанализа. Рентгеновский микроанализ не имеет себе равных по локальности (~1μ), чувствительности (10 - 100 ppm) и скорости проведения среди неразрушающих методов анализа для массивных и тонкопленочных образцов.
Прогнозирование прочностных и эксплуатационных характеристик различных материалов, определение связи между свойствами вещества и особенностями его состава, изучение кристаллической структуры, различных дефектов не только в неорганических, но и биологических объектах - вот неполный круг задач решаемых с помощью микроскопа-микроанализатора. Электронный микроскоп SEMMA-2000 объединяет функции растрового электронного микроскопа высокого разрешения и рентгеновского микроанализатора и используется для исследования рельефа поверхности различных объектов в твёрдой фазе и проведения рентгеновского микроанализа элементного состава вещества по длинам волн и энергиям квантов характеристического рентгеновского излучения.
Прогнозирование прочностных и эксплуатационных характеристик различных материалов, определение связи между свойствами вещества и особенностями его состава, изучение кристаллической структуры, различных дефектов не только в неорганических, но и биологических объектах - вот неполный круг задач решаемых с помощью микроскопа-микроанализатора. Электронный микроскоп SEMMA-2000 объединяет функции растрового электронного микроскопа высокого разрешения и рентгеновского микроанализатора и используется для исследования рельефа поверхности различных объектов в твёрдой фазе и проведения рентгеновского микроанализа элементного состава вещества по длинам волн и энергиям квантов характеристического рентгеновского излучения.